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경북대 산업현장 기술지원 HOT LINE CENTER

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기본정보

교수 사진
함성호 교수
전화: 053-950-6843
팩스:053-950-6858
홈페이지:http://sod.knu.ac.kr/
이메일:shhahm@knu.ac.kr
분야
IT융복합산업 
단과대학
IT대학 
학과(부)
전자공학부 
전공분야
실리콘 Fin-FET, 화합물반도체 광소자 및 전자소자 
사업화가능아이템
자외선 센서, 화합물반도체소자, Fin 측면 접촉 기술 
기술협력
및 자문분야
자외선 센서, 화합물반도체소자, Fin 측면 접촉 기술 
키워드
자외선 센서, 화합물반도체, Fin-FET, 접촉저항 
연구실위치
IT 3호관 502A호 
연구실소개
본 연구실에서는 또한 차세대 공정 기술인 ALD, PAALD법을 이용하여, drain/source와 plug 사이의 접촉 저항을 줄이는 nickel silicide contact layer를 개발함으로써 90nm, 60nm 뿐만 아니라 45nm 세대에서도 적용 가능한 contact layer 공정 기술 개발하고자 한다. 기존의 제시된 contact방법과 달리 Fin측면에 narrow-trench를 이용하여 contact을 도모하여 소자가 작아짐에 따라 가장 문제시 되는 contact resistance가 차지하는 비율을 줄이고자 한다.  

학력정보

졸업년도 학교 전공 학위
1985 경북대학교 전자공학과 공학사
1987. 1991 한국과학기술원 전기 및 전자공학과 공학석사. 공학

주요경력

근무처 부서 근무기간 업무내용
경북대학교 전자전기컴퓨터 1997~현재 조교수. 부교수. 교수
한국과학기술원 정보전자연구소 1991~1992 광교환기용IC개발
산업자원부 반도체사업과 1992~1996 사무관
국책 경북대학교 전자전기공학부 1996~1997 조교수대우
경북대학교 센서기술연구소 1997~1999 전임강사
경북대학교 전자전기공학부 1999~2003 조교수
National Univ. of Singapore ECE Dept. 2003~2004 Teaching Fellow

주요연구실적

연구실적 지원기관 수행연도
A Normally-Off GaN n-MOSFET with Schottky-Barrier Source and Drain on a Si-auto-doped p-GaN/Si
IEEE Electron Device Letters 2006.02.01
Formation of Low-Resistivity Nickel Silicide with High Temperature Stability from Atomic-Layer-Depositied Nickel Thin Film
Japanese Journal of Applied Physics 2006.04.01
UV Photo-Responsive Charateristics of an n-Channel GaN Schottky-Barrier MISFET for UV image sensors
IEEE Electron Device Letters 2006.07.01
Enhancement Mode Operation and Ultraviolet Responsivity of -Channel GaN Metal-Insulator-Semiconductor Field Effect Transistor with Schottky Barrier Source and Drain
Japanese journal of Applied Physics 2007.04.24
Effectiveness of Self-Carbon and Titanium Capping Layers in NiSi formation with Ni Film Deposited by Atomic Layer Deposition
Japanese Journal of Applied Physics 2007.04.24
Amphoteric Behavior of Impurities in GaN Film Grown on Si Substrate
Japanese Journal of Applied Physics 2007.04.24
Enhanced Electrical Characteristics of AlGaN/GaN Heterostructure Field -Effect Transistor with p-GaN Back Barriers and Si Delta-Doped Layer
Japanese journal of Applied Physics 2008.04.25
A Highly Integrable p-GaN MSM Photodetector with GaN n-channel MISFET for UV Image Sensor System
Jounal of the Korean Sensor Society 2008.09.30

핵심기술

분야명 핵심기술 이미지
실리콘 분야
● Low contact resistivity available. ● Lower parasitic capacitance compared to the elevated S/D. ● No silicide scaling problem such as agglomeration. ● Lower sheet resistance compared to the silicides. ● Very high Shottky barrier height 090415_181818
화합물 분야
: Ideally, over 3 eV. ● Low thermionic emission realted leakage current ● High UV/visible rejection ratio. ● Easy integration with GaN MISFET 100120_162535

보유장비 및 소프트웨어

장비/소프트웨어명 내용
TCAD Software (Silvaco) Device simulation

보유특허

특허명 대표발명가 보유연도 이전희망
액상 결정성장에서 선택적 용액식각을 이용한 집적형태의 광소자
함성호 1993.3.01 X
루데니움 산화물을 이용한 쇼트키 콘택 방법
함성호 2002.7.29 X
쇼트키 장벽 전계효과 트랜지스터 및 그 제조방법
함성호 2007.6.18 X